智能品质体系
树立创新新标杆
在Smith，持续改进根植于企业文化之中。我们拒绝安于现状，始终致力于探索优化流程、服务与技术的新路径。正是这种不懈追求卓越的创新精神，推动我们不断超越客户期望，并不断刷新行业对“质量卓越”的定义。
我们的创新之道
缩短处理时间
提高效率与准确性
推出全新服务方案
增强采购能力
运用新技术
人本Smith
过去四十多年来，我们发现最具创新性和实效性的解决方案，往往来自我们内部的团队成员。他们对我们的系统了如指掌，也最清楚哪些环节蕴藏着最大的改进空间。
我们的员工建议计划，鼓励团队成员提出有助于Smith节省时间与成本的创意，同时坚守质量与安全方面的高标准。每一项建议由运营管理层进行审查与评估，成功落地实施的方案将根据实际运营成效，按照分级奖励制度给予相应的回报。
新兴先进技术
我们不断设计并实施创新方案，彰显对持续发展的坚定承诺。从自主研发的设备与软件，到扩展的测试能力与增强的服务项目，我们携手客户共同打造优化解决方案，精准满足其独特需求。
Argus™卷盘封装检测仪
Smith自主研发的外观检测解决方案，利用专有的AI软件，捕获、存储并分析卷盘中每个组件封装表面的高分辨率图像，以识别异常情况，并标记出需要进一步评估的元件。
- 对卷盘包装的元件进行100%外观检测
- 每分钟可捕获180-200个元件图像
- 识别异常情况，如空腔、日期代码和批次代码不一致、元件方向错误、外观缺陷
SWIPE®
Smith已获专利的解决方案可处理多种可读存储设备（包括硬盘、SSD及内存模组），不仅能全面检测设备功能、记录识别信息，并按照大规模数据擦除的最高标准永久删除数据。该系统采用专有擦除算法，能够根据客户的特定数据安全需求进行自适应调整。
- 每天可验证超过155,000 个 HDD 和 173,000 个 SSD
- 定制擦除算法，数据清除达 NIST SP 800-88 R1 标准
- 根据客户独特需求定制API集成
- 可通过PXE启动平台、客户端工作站或两者同时执行
- 在Smith的ISO/IEC 27001认证系统内进行记录并归档
Obelisk
Smith自主研发的先进高清显微镜，可实现高达6,000倍的放大效果，并以4K图像清晰呈现观测画面。我们能够在无失真、无延迟、无干扰的情况下，对元件进行高精度检测，呈现极佳的色彩还原度。
- 内部自主开发，符合Smith的高标准质量要求
- 检测元件表面翻新的痕迹、砂痕、氧化和再镀锡等现象
通用扫描站
我们自主研发的通用扫描站能够快速扫描整盘产品，并记录关键信息，包括序列号、型号、批次代码、日期代码和原产地，以与Smith系统内的数据进行比对验证。
- 可对单个元件或整托盘产品进行扫描
- 每日可扫描30,000 个托盘
- 支持与系统内数据进行核验
员工分享
创新是Smith的核心竞争力。我们的团队始终致力于开拓新领域，引领前沿理念，并推动全球业务的创新发展。
Smith创新见解
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